数字式四探针测试计 四探针测试计 半导体四探针检测仪
简要描述:数字式四探针测试计 四探针测试计 半导体四探针检测仪
测量范围
电阻率:10-2~102Ω-cm;
方块电阻:10-1~103Ω/□;
电阻:10-3~9999Ω
产品型号: DL10-1934B
所属分类:测温仪表
更新时间:2024-12-07
厂商性质:生产厂家
详情介绍
数字式四探针测试计 四探针测试计 半导体四探针检测仪
型号:DL10-1934B
数字式四探针测试计 四探针测试计 半导体四探针检测仪
测量范围
电阻率:10-2~102Ω-cm;
方块电阻:10-1~103Ω/□;
电阻:10-3~9999Ω
可测半导体材料尺寸
直径:Φ15~100mm;
长(或高)度: ≤400mm
外形尺寸
主机 170mm(D)×130 mm(W)×50mm(H)
电源
功 耗:<1W;
电源适配器:
输入:220V±10% 50Hz;
输出:DC5V±10%
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